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測量幾何公差的設(shè)備與原理

不同于尺寸特性測量2點(diǎn)間直線距離的操作,幾何特性要求測量“圓度”、“筆直度”、“起伏”等形狀,難以借助測量2點(diǎn)間距離的測量器具,即游標(biāo)卡尺及千分尺進(jìn)行測量。
幾何公差的測量涉及多種測量形狀的器具及設(shè)備,它們的精度、操作性、價格千差萬別。

測量幾何公差的設(shè)備與原理

幾何特性的測量器具及設(shè)備分類如下,在下面中,我們將為您介紹適用于不同幾何特性測量的器具及設(shè)備。

測量器具

平板千分表、V塊、高度尺規(guī)、極限量規(guī)/功能量規(guī)(位置量規(guī))

測量儀

真圓度測量儀、三坐標(biāo)測量儀

索引