干涉式同軸 3D 位移測(cè)量?jī)x WI-5000 系列

僅需短短0.13秒即可 高精度測(cè)量8萬點(diǎn)的高度

WI-5000 系列 - 干涉式同軸 3D 位移測(cè)量?jī)x

采用白光干涉原理，可實(shí)現(xiàn)高速、高精度的3D測(cè)量。支持從高度差/體積測(cè)量等的測(cè)量到寬度/面積等各種測(cè)量。

產(chǎn)品特性

并非以點(diǎn)線測(cè)量，而是以“面”進(jìn)行測(cè)量

針對(duì)最大 10 × 10 mm 的測(cè)量區(qū)域，可瞬間獲取 8 萬個(gè)點(diǎn)的高度。?由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實(shí)現(xiàn)了微米級(jí)的高精度測(cè)量。

在線實(shí)現(xiàn)高速全數(shù)檢測(cè)

測(cè)量多點(diǎn)時(shí)，需要高精度且高速掃描目標(biāo)物。 因此，會(huì)將時(shí)間浪費(fèi)在移動(dòng)載物臺(tái)上，不易進(jìn)行全數(shù)檢測(cè)。?由于 WI-5000 系列是以面進(jìn)行同時(shí)測(cè)量，因此可大幅縮短測(cè)量時(shí)間，實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢測(cè)。

大幅削減離線檢測(cè)工時(shí)

為了用于離線檢測(cè)，備有可固定傳感器頭的專用底座。 配備可削減檢測(cè)工時(shí)的各種實(shí)用功能。?改善從簡(jiǎn)易測(cè)量到保存數(shù)據(jù)等各種情況的可操作性。